ROHS2.0測試設(shè)備 XRF熒光光譜儀，又叫X熒光光譜儀（簡稱XRF）是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)廣泛應(yīng)用。

RoHS檢測儀XRF-熒光光譜儀，專業(yè)用于RoHS環(huán)保有害元素的快速檢測，如：

1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚；

2、無鹵指令，鹵素檢測：氯Cl、溴Br；

國際電工委員會推薦的檢測RoHS有害元素 檢測儀器，且可以應(yīng)對多種環(huán)保指令，如：

1、應(yīng)對歐盟RoHS2.0指令—2011/65/EU

2、應(yīng)對無鹵指令I(lǐng)EC61249-2-21

3、應(yīng)對REACH指令

4、應(yīng)對玩具En71指令

5、應(yīng)對美國CPSIA消費品安全改進法

6、應(yīng)對China-RoHS國推自愿性認證

7、符合IEC62321標準

8、符合GB/T26125-2011

ROHS2.0測試設(shè)備 XRF-W7 技術(shù)參數(shù)

測試范圍

1、從硫S-鈾U之間的元素

2、RoHS限定有害元素檢測：Pb/Hg/Cd/Cr/Br

3、無鹵指令鹵素檢測：Cl/Br

4、8大重金屬檢測：鎘Cb、鉛Pb、汞Hg、鉻Cr、銻Sb、砷As、鋇Ba、硒Se；

可測樣品的種類：固體、液體、粉末（任何材質(zhì)的樣品）

檢出限：≤2ppm

精度：0.05%

測試時間：30-300S（可以任意調(diào)節(jié)）

攝像定位系統(tǒng)：800萬真像素高清定位系統(tǒng)

X射線光管使用壽命：大于20000小時

探測器

美國Amptek公司*電制冷Si-Pin 探測器

分辨率145ev±5

高壓電源：0-50kev，0-2mA ，50W

高壓保護措施：過壓自保護，自恢復(fù)

準直濾光系統(tǒng)

X射線光斑大小直徑：φ1mm、φ3mm、φ4mm

濾光系統(tǒng)：9種復(fù)合材料濾光片

工作環(huán)境溫/濕度：溫度：15-30℃；濕度：≤75% （不結(jié)露） 

輸入電源：AC 220V±15%，50Hz

儀器尺寸：650mm*450mm*350mm

測試樣品腔尺寸：100mm*200mm*80mm

輻射防護標準：遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準